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前海股票交易代碼 ：663541
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恒定狀態(tài)波動(dòng)低于±0.3℃；超低溫試驗(yàn)最低可達(dá)-85℃；超高溫試驗(yàn)最高可達(dá)300℃。
濕度控制優(yōu)異原裝設(shè)備可靠性強(qiáng)；高性能設(shè)備可達(dá)95℃98%RH；對(duì)應(yīng)最高4氣壓
全部為原裝進(jìn)口設(shè)備，控制精良；對(duì)應(yīng)各種兩箱及三箱法試驗(yàn)；滿足氣體或液體介質(zhì)試
全部為原裝進(jìn)口設(shè)備，控制精良；線形控制溫變率可達(dá)20℃/分；對(duì)應(yīng)溫度循環(huán)條件中的調(diào)
小型振動(dòng)臺(tái),3KN；中型振動(dòng)臺(tái)，31.36KN；配套ESPEC環(huán)境箱可滿足大部分三綜合試
近年來國內(nèi)外電子整機(jī)的失效統(tǒng)計(jì)顯示，元器件造成的失效占50%的比例。多年來一直居高不下，引起人們普遍關(guān)注。元器件本身及使用的可靠性提高對(duì)于整機(jī)可靠性的提高具有關(guān)鍵的作用。
| 檢測(cè)對(duì)象 | 測(cè)試項(xiàng)目 | 相應(yīng)測(cè)試設(shè)備 | 型號(hào) |
| 電子元器件 | 熱沖擊： 確定光電子器件在遭受到溫度劇變時(shí)的抵抗能力和產(chǎn)生的作用 |
冷熱沖擊箱 | CTS系列/CTD系列 |
| 溫度循環(huán)： 確定光電子器件承受極高溫和極低溫度的能力， 以及極高溫度和極低溫度交替變化對(duì)電子器件的影響 |
高低溫箱 | GDW系列 | |
| 恒定濕熱： 確定密封和非密封光電子器件能否同時(shí)承受規(guī)定的溫度和濕度 |
高低溫濕試驗(yàn)箱 | ITM-LHC-408L | |
| 高溫壽命： 確定光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命 |
高溫試驗(yàn)箱 | DHG系列 | |
| 高溫加速老化： 加速老化過程中的最基本環(huán)境應(yīng)力式高溫，在實(shí)驗(yàn)過程中， 應(yīng)定期監(jiān)測(cè)選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止 |
可程式高溫試驗(yàn)箱 | ITM-1400L | |
| 恒溫試驗(yàn)： 恒溫試驗(yàn)與高溫運(yùn)行試驗(yàn)類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗(yàn)樣品數(shù)量和允許失效數(shù) |
恒溫恒濕試驗(yàn)箱 | GDJS系列 | |
| 變溫試驗(yàn)： 變化溫度的高溫加速老化試驗(yàn)是定期按順序逐步升高溫度 （例如：60℃、85℃和100℃） |
快速溫變?cè)囼?yàn)箱 | KTB系列 |
導(dǎo)讀：高低溫交變箱為確保操作安全，通常配備了一系列安全保護(hù)措施，以下是其主要的安全保護(hù)措施：
導(dǎo)讀：高低溫濕熱試驗(yàn)箱通過模擬各種極端環(huán)境條件，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行性能測(cè)試和可靠性驗(yàn)證。溫度變化作為其中的關(guān)鍵因素，對(duì)產(chǎn)品性能的影響主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：
導(dǎo)讀：高低溫箱的制冷系統(tǒng)是其核心組成部分，負(fù)責(zé)在試驗(yàn)過程中提供必要的低溫環(huán)境。這一系統(tǒng)采用了先進(jìn)的技術(shù)，以確保能夠高效、穩(wěn)定地達(dá)到所需的溫度范圍。以下是對(duì)高低溫箱制冷系統(tǒng)采用技術(shù)的詳細(xì)解析：
導(dǎo)讀：恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一種廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域的重要環(huán)境模擬設(shè)備，其核心功能在于能夠模擬并控制特定的溫度和濕度條件，從而為各種產(chǎn)品提供可靠的測(cè)試環(huán)境。以下是對(duì)恒溫恒濕試驗(yàn)箱所能模擬的環(huán)境條件的詳細(xì)闡述：
導(dǎo)讀：高低溫試驗(yàn)機(jī)的溫度控制精度是衡量其性能的重要指標(biāo)之一，直接關(guān)系到試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。一般來說，高低溫試驗(yàn)機(jī)的溫度控制精度可以達(dá)到±0.5℃左右，但這一數(shù)值并非絕對(duì)，實(shí)際應(yīng)用中會(huì)受到多種因素的影響而有所變化。
